Darsono, Darsono (2005) PERHITUNGAN SENSITIVITAS ANALISIS PIXE 150 keV. Prosiding Pertemuan dan Presentasi Ilmiah Teknologi Akselerator dan Aplikasinya, 7. pp. 275-281. ISSN 1411-1349
|
Text (PERHITUNGAN SENSITIVITAS ANALISIS PIXE 150 keV)
PROSIDING_DARSONO_PSTA_2005.pdf - Published Version Available under License Creative Commons Attribution Non-commercial Share Alike. Download (70kB) | Preview |
Abstract
PERHITUNGAN SENSITIVITAS ANALISIS PIXE 150 keV. Proton Induced X-ray Emission (PIXE) merupakan teknik analisis unsur yang ampuh yaitu multi unsur, tak merusak, sensitivitas tinggi, dan cepat. Teknik PIXE yang ada sekarang ini umumnya menggunakan enegi proton tinggi (orde 2-4 MeV). Dengan energi proton tersebut maka teknik PIXE secara ekonomis tidak dapat bersaing dengan teknik analisis yang semisal keampuhannya. Dari kajian dua literatur menerangkan bahwwa cacah latar untuk PIXE energi 300 keV dan 500 keV lebih baik namun batas deteksinya lebih rendah. Dalam rangka mengoptimalkan penggunaan fasilitas akselerator ion 150 kV di P3TM dan dalam rangka penguasaan teknologi analisis menggunakan akselertator maka perlu dilakukan litbang teknologi PIXE energi rendah. Pada penelitian ini dilaporkan bahwa telah dilakukan perhitungan sensitivitas PIXE pada energi proton 150 keV secara simulasi untuk unsur-unsur dari Z=14 sampai dengan Z=50 yang diidentifikasi menggunakan sinar X garis Kα1. Parameter simulasi meliputi efisiensi detektor, muatan proton dan berat sampel, Dari hasil perhitungan diperoleh bahwa sensitivitas PIXE pada energi 150 keV puluhan kali lebih rendah dibandingkan dengan sensitivitas PIXE pada energi 4 MeV.
| Item Type: | Article |
|---|---|
| Subjects: | Isotop dan Radiasi > Produksi Isotop dan Sumber Radiasi > Iradiator Isotop dan Radiasi > Produksi Isotop dan Sumber Radiasi > Akselerator |
| Divisions: | Pusat Sains dan Teknologi Akselerator |
| Depositing User: | EDITOR PSTA BATAN |
| Date Deposited: | 30 Oct 2018 07:39 |
| Last Modified: | 31 Oct 2018 07:42 |
| URI: | http://repo-nkm.batan.go.id/id/eprint/4208 |
Actions (login required)
 |
View Item |